物理學名詞.xls (中英對照) - ::::: 歡迎光臨東吳大學 ::::: Sheet3 Sheet2 Sheet1 (一)分接；(二)分接頭 等時[降落]曲線 泰勒-庫埃特流 遠心光闌 遠心系統 電信方程[式] 遠震 (地科) TEM (=transmission electron microscope) (一)回火度；(二)含碳量 (一)韌性；(二)韌度
掃瞄式電子顯微鏡(SEM) 2. 本. 月. 專. 題. ｜. 探. 索. 奈. 米. 視. 界. 電子顯微鏡之歷史演進. 光學顯微鏡(Light Microscopes) 受. 限於波長繞射的限制，因此解析度只能. 到300nm 左右。為突破對 ...
閎康科技股份有限公司 > InGaAs - Materials Analysis Technology Inc. InGaAs EMMI 與傳統 EMMI (Si CCD) 的偵測原理幾乎相同，但是由於兩者的 光子偵測器的材料不同(InGaAs及Si)，所以可偵測的微光波長範圍也不同。因為InGaAs的能隙較小，因此可偵測的波長較Si可偵測的波長較長。
國立交通大學奈米中心實驗室 - NFC奈米中心 高解析度場發射掃描式電子顯微鏡暨能量散佈分析儀. 英文名稱： ... 原理部分將只 簡單的描述電子束行進的電子路徑，和電子與物質之交互作用。 此外，我們也簡易的 ...
詹氏書局 工業配電(第五版) 內容簡介 本書突破以往教科書理論方式的內容，改用淺顯易懂的引言作為每一章節的開端，並以畫龍點睛的方式將該章的重點勾劃出來，激發讀者的學習興趣，為求理論與實際能相互配合，本書特別對有關家庭用電 ...
Electron-beam lithography - Wikipedia, the free encyclopedia Electron-beam lithography (often abbreviated as e-beam lithography) is the practice of scanning a focused beam of electrons to draw custom shapes on a surface covered with an electron sensitive film called a resist ("exposing").[1] The electron beam chang
閎康科技股份有限公司 > Thermal Emission Microscope Thermal Emission Microscope 技術原理 THEMOS mini 為簡易, 節省空間之最新電性故障定位設備, 可直接並快速地透過 IC 正面及背面來找出缺陷所在位置. 更可在 IC 未開蓋狀態下先定位出失效點為 IC 本身或封裝問題. 其主要原理乃利用高靈敏度之 InSb detector 偵 ...
Introduction to Optical Microscopy, - Molecular Expressions: Images from the Microscope The Molecular Expressions microscopy primer reviews basic and advanced topics and concepts in optics, light, color, optical microscopy, digital imaging, photomicrography and features over 200 interactive Java tutorials. ... Introduction to Optical Microsc
SEM (Scanning Electron Microscopy) 掃描式電子顯微鏡 SEM_基本架構. 電子槍. 第一聚 ... SEM構造_電子槍. 電子槍包括 ... 成像原理. 電腦將表面掃描所產生的各種訊號，逐點轉換成陰極射線管中對應的影像。樣品表面的高 ...
